Семенко Н.Г. Стандартные образцы в системе обеспечения единства измерений / Н.Г.Семенко,В.И.Панева,В.М.Лахов;Под ред.Н.Г.Семенко, 1990. - 287 c. - Текст : непосредственный.
Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии / О. Д. Анашина [и др.]; под ред. В. Н. Крутикова, 2011. - 590 с. с. - Текст : электронный.