Коломийцев А.С. Разработка технологических основ субмикронного профилирования поверхности подложек методом фокусированных ионных пучков для создания микро- и наноструктур : автореф. дис. .. канд. техн. наук: 05.27.01 / А. С. Коломийцев, 2011. - 23 с. - Текст : непосредственный.
Коломийцев А.С. Исследование режимов субмикронного профилирования подложек кремния методом фокусированных ионных пучков для формирования элементов микро- и наносистемной техники / А. С. Коломийцев. - Текст : непосредственный // Наноинженерия - 2010. - М. : Изд-во МГТУ им. Н.Э. Баумана, 2010. - с. 186-189