Казанцев Д.В. Ближнепольная микроскопия локального оптического отклика поверхности SiC и полупроводниковых наноструктур на основе Si, GaAs и InP : автореф. дис. .. д-ра физ.-мат. наук: 01.04.05 / Д. В. Казанцев, 2006. - 47 с. - Текст : непосредственный.
Казанцев Д.В. Создание программно-аппаратного комплекса для исследования поверхности методами микроскопии сканирующего зонда : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд. физ.-мат.наук:01.04.01 / Д. В. Казанцев, 1996. - 22 с. - Текст : непосредственный.
Ефимова А. И. Современная инфракрасная спектроскопия: основы, методы, приборная база : учебное пособие для вузов / А. И. Ефимова, В. Б. Зайцев, Д. В. Казанцев, Н. Ю. Болдырев, 2023. - 356 с. - Текст : электронный.