Электронный каталог

страница из

всего найдено записей: 7,
  отображать
10 записей 20 записей 40 записей

Лицевая сторона карточки	Обратная сторона карточки

Бублик В.Т. Методы исследования материалов и структур электроники.Рентгеновская дифракционная микроскопия : Курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский, 2006. - 92 с. с. - Текст : непосредственный.

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация : учеб. пособие / В. Т. Бублик [и др.], 2013. - 66 с. с. - Текст : непосредственный.

Бублик В.Т. Специальные методы изучения и контроля структуры и свойств полупроводников и компонентов электронной техники. Раздел Диффузное рассеяние : Курс лекций для спец.20.02 / В.Т.Бублик, 1990. - 98 с. - Текст : непосредственный.

Объемный наноструктурированный термоэлектрический материал на основе (Bi, Sb)[[d]]2[[/d]]Te[[d]]3[[/d]], полученный методом искрового плазменного спекания (SPS) / В. Т. Бублик, И. А. Драбкин, В. В. Каратаев [и др.]. - Текст : непосредственный. // Термоэлектрики и их применения : докл. XIII Межгос. семинара (нояб. 2012 г.). - СПб. - 2013. - с. 23-28

Структура и термоэлектрические свойства объемного материала на основе (Bi, Sb)[[d]]2[[/d]]Te[[d]]3[[/d]], полученного из смеси нано- и микрокомпонентов методом SPS / В. Т. Бублик, И. А. Драбкин, В. Б. Освенский [и др.]. - Текст : непосредственный. // Термоэлектрики и их применения : докл. XIII Межгос. семинара (нояб. 2012 г.). - СПб. - 2013. - с. 35-40

Влияние агрегирования нанопорошков на свойства консолидированных термоэлектрических материалов / Г. И. Пивоваров, В. Д. Бланк, В. Т. Бублик [и др.]. - Текст : непосредственный. // Термоэлектрики и их применения : докл. XIII Межгос. семинара (нояб. 2012 г.). - СПб. - 2013. - с. 47-52