Обзоры по электронной технике / ЦНИИ "Электроника". Вып. 1(1572) : Оптические методы диагностики полупроводниковых структур на основе соединений А В : По данным отеч.и зарубеж.печати за 1975-1989 гг. / А.В.Бобыль,Г.Д.Варенко,С.А.Евдокимов и др., 1990. - 64 с. - Текст : непосредственный.
Бобыль А.В. Дефекты эпитаксильных YBa CUзO пленок как источники фликер-шума : Автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07 / А. В. Бобыль, 1999. - 40 с. - Текст : непосредственный.
Бобыль А.В. Физико-химические основы технологии полупроводников. Пучковые и плазменные процессы в планарной технологии : учеб. пособие / А. В. Бобыль, С. Ф. Карманенко, 2005. - 114 с. - Текст : непосредственный.