• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy : proc.of a NATO advanced research workshop on the evaluation of advanced semiconductor materials held Sept.12-17,1988 in Bristol / Ed. D. Cherns. - New York, NY ; London : Plenum press, 1989. - XI,412 p. p. : ill. - (NATO advanced study institutes series. Ser.B, Physics ; vol.203). - ISBN 0-306-43362-1. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.в конце ст.Указ.:с.409-412

    ГРНТИ УДК
    29.19.31537.311.322:620.186(063)

    Рубрики:
    Полупроводники -- Методы исследования -- Съезды и конференции

    Кл.слова (ненормированные): ПОЛУПРОВОДНИК
    Доп. точки доступа:
    Cherns, D.\ed.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/9393/203)

    Шифр в сводном ЭК: cc16854c5e766f27429bd9dc47f2674b



    Заказ фрагмента документа ₽