Полное описание
> Automated inspection and high speed vision architectures : proc.of the meet. 3-4 Nov.1987, Cambridge(Ma) / Comp.: M. J.W. Chen, J. Ahlers ; сост.ed. M. J.W. Chen, сост.ed. J. Ahlers. - Bellingham(Wa) : [s. n.], 1988. - VI, 274 p. 274 p. : ill. - (Proceedings / Soc.of photo-optical instrumentation engineers ; vol.849). - ISBN 0-89252-884-2. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце ст. Указ.:с.274
ГРНТИ | УДК | |
81.81 | 658.562:004(062) | |
004.93(062) |
Рубрики:
Технический контроль автоматический -- Съезды и конференции
Машинное зрение -- Съезды и конференции
Кл.слова (ненормированные): АВТОМАТИЧЕСКИЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ -- МАШИННОЕ ЗРЕНИЕ
Доп. точки доступа:
Chen, M.J.W.\comp.\
Ahlers, J.\comp.\
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/7309/849)>
Шифр в сводном ЭК: cb2b0336add99c64545fde3c62650867
Заказ фрагмента документа ₽