Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 2,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy : Proc.of a NATO advanced research workshop on the evaluation of advanced semiconductor materials held Sept.12-17,1988 in Bristol / Ed. D. Cherns, 1989. - XI,412 p. p. - Текст : непосредственный.