Полное описание

Apparao, K. V.S.R. A new technique of measuring trace absorption of optical thin films / K.V.S.R.Apparao,N.K.Sahoo. - Bombay : [s. n.], 1993. - 18 p. : ill. - (Publication / BARC ; 1993/E/002). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.18

ГРНТИ	УДК
47.35.31	681.7.064.45
47.03.11	621.373.826.038.8

Рубрики:
Оптические покрытия -- Параметры -- Измерения
Лазеры -- Оптические системы

Доп. точки доступа:
Sahoo, N.K.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6140/1993/E/002)

Шифр в сводном ЭК: e8d5e788ee7f8e113491ad8c8301630d

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽