• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Методы и средства диагностирования КМОП БИС : учеб.пособие для вузов по направлению "Электроника и микроэлектроника" и спец."Физика и технология материалов и компонентов электрон.техники","Микроэлектроника и полупроводниковые приборы" / С.Е.Артамонов,В.М.Кривошапко,Д.0.Левицкий и др. - М. : Радио и связь, 1993. - 240 c. : ил. - Авт.указ.на обороте тит.л. - 1000 экз. - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с.233-239(139 назв.)

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14.001.4

    Рубрики:
    Интегральные схемы большие -- Техническая диагностика

    Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШАЯ ИНТЕГРАЛЬНАЯ СХЕМА -- ТЕХНИЧЕСКАЯ ДИАГНОСТИКА
    Доп. точки доступа:
    Артамонов, С.Е.
    Кривошапко, В.М.
    Левицкий, Д.О.
    Кривошапко, В.М.\ред.\

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-93/17858)

    Шифр в сводном ЭК: c151025f327af75e10e2ddb2225f9434



    Заказ фрагмента документа ₽