Полное описание

Sahoo, N. K. Non-destructive characterization techniques for rapid optical and structural analysis of dielectric thin films / N.K.Sahoo,K.V.S.R.Apparao. - Bombay : [s. n.], 1993. - 47 p. : ill. - (Publication / BARC ; 1993/E/014). - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.44,47

ГРНТИ	УДК
47.35.31	621.315.61-416
45.09.37	621.373.826.038.8

Рубрики:
Лазеры -- Оптические системы
Диэлектрические пленки

Доп. точки доступа:
Apparao, K.V.S.R.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/6140/1993/E/014)

Шифр в сводном ЭК: bfe02763fcd8cdab24c25b3fa097b49f

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽