• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Pavlov, A. CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test / A. Pavlov, M. Sachdev ; SpringerLink (Online service). - Dordrecht : Springer, 2008. - on-line. - (Frontiers in electronic testing ; 40). - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1. - ISBN 978-1-4020-8363-1. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    50.11.31004.332.34

    Рубрики:
    Запоминающие устройства с произвольной выборкой

    Доп. точки доступа:
    Sachdev, M.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-1-4020-8363-1


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 004.332.34/P34-383780)

    Шифр в сводном ЭК: b44dda56cf8c679664ebf7ecf931f085



    Просмотр издания