Полное описание

Palm, J. Lokale Untersuchungen der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in Silizium : Diss. / J.Palm. - K@:oln : [s. n.], 1993. - 117 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.113-117

ГРНТИ	УДК
29.19.31	537.311.322:548.4(043)
	537.311.322:537(043)

Рубрики:
Кремний -- Кристаллы -- Дефекты

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/18326)

Шифр в сводном ЭК: 90bcb285dad08e7bc53a9dd2005a0147

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽