Полное описание
> Palm, J. Lokale Untersuchungen der elektrischen Eigenschaften von Korngrenzen in Silizium : Diss. / J.Palm. - K@:oln : [s. n.], 1993. - 117 S. : Ill. - Текст : непосредственный.
Библиогр.:с.113-117
ГРНТИ | УДК | |
29.19.31 | 537.311.322:548.4(043) | |
537.311.322:537(043) |
Рубрики:
Кремний -- Кристаллы -- Дефекты
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): G2/18326)>
Шифр в сводном ЭК: 90bcb285dad08e7bc53a9dd2005a0147
Заказ фрагмента документа ₽