Полное описание

Аналитическая система CompleXRay для рентгеновской диагностики наноструктур / А. Г. Турьянский, В. И. Анисимов, Н. Д. Бейлин [и др.]. - Текст : непосредственный // Нанотехнологии - производству 2012 : тр. VIII науч.-практ. конф., 4-6 апр. 2012 г., Фрязино. - М., 2012. - С. 266-276. - Библиогр.: 14 назв.
ГРНТИ 90.27.31

Аннотация: Описана измерительная схема и функциональные возможности аналитического комплекса CompleXRay на базе рентгеновского рефлектометра.
Доп. точки доступа:
Турьянский, А.Г.
Анисимов, В.И.
Бейлин, Н.Д.
Герасименко, Н.Н.
Гижа, С.С.
Капустянов, В.Е.
Пиршин, И.В.
Сенков, В.М.
Смирнов, Д.И.


Имеются экземпляры в отделах: всего -20130909 : ПНТ (-20130909)
Свободны: ПНТ (1)
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): -080770-005966)

Шифр в сводном ЭК: 8419c8c3c3dd5339dc64f92a6c67e647

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽