Полное описание

Исследование контура обертонной спектральной линии HF, уширенной Ar, Xe, Kr, N2, методом диодной лазерной спектроскопии / Ш. Ш. Набиев [и др.]. - М. : Курчат. ин-т, 2012. - 15 с. : ил. - (Препринт / "Курчат. ин-т", нац. науч. центр ; ИАЭ-6729/12). - Библиогр.: с. 14-15 (19 назв.). - 65 экз. - ISBN 978-5-904437-26-8. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
58.01.94	543.272.455(043)
	621.039.713-047.36(04)

Рубрики:
Фтористый водород -- Определение
Газовый анализ лазерный
Отходящие газы атомных предприятий -- Контроль

Доп. точки доступа:
Набиев, Ш.Ш.
Понуровский, Я.Я.
Иванов, С.В.
Семенов, В.М.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/12013/ИАЭ-6729/12)

Шифр в сводном ЭК: 505c2cf689f81c5a86a047f2cf21064e

Заказать издание
Заказ фрагмента документа ₽