Полное описание
> Experimental findings on self-recovery and improvement of representative parameters of some semiconductor devices as irradiated in fast neutron flux / W.Hammer,Sl.Sterlinski,V.M.Nazarov,Z.Bober. - Dubna : [s. n.], 1990. - 6 p. - (Препринт / Объединенный ин-т ядерных исследований(Дубна) ; Е14-90-345). - 360 экз. - Текст : непосредственный.
Bibliogr.: p. 6 (5 nazv.)
ГРНТИ | УДК | |
47.33 | 621.382:539.16(04) |
Рубрики:
Полупроводниковые приборы -- Влияние ионизирующих излучений
Кл.слова (ненормированные): ВЛИЯНИЕ -- ИОНИЗИРУЮЩЕЕ ИЗЛУЧЕНИЕ -- ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ПРИБОР
Доп. точки доступа:
Hammer, W.
Sterlinski, Sl.
Nazarov, V.M.
Bober, Z.
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Н/2509/Е14-90-345)>
Шифр в сводном ЭК: 181e285ac4d1bc821427b0ee0ae30059
Заказ фрагмента документа ₽