• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Вторично-эмиссионные методы мониторинга и контроля ионно-лучевой обработки : учебное пособие / С. Н. Григорьев, А. М. Борисов, И. В. Суминов [и др.] ; Министерство науки и высшего образования Российской Федерации, Московский государственный технологический университет "СТАНКИН". - Москва : МГТУ "СТАНКИН", 2023. - 101 с. : ил. - Авт. указаны на обороте тит. л. - Библиогр.: с. 101 (9 назв.). - 300 экз. - ISBN 978-5-7028-0770-6. - Текст (визуальный) : непосредственный.
    ГРНТИ УДК
    55.20.15621.9.048.7

    Рубрики:
    Электронно-ионная обработка

    Кл.слова (ненормированные): ГРАФИТЫ -- ИОННАЯ ИМПЛАНТАЦИЯ -- ИОННО-ИНДУЦИРОВАННЫЕ СТРУКТУРЫ -- ИОННО-ЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ -- РАДИАЦИОННЫЕ НАРУШЕНИЯ -- СТЕКЛОУГЛЕРОДЫ
    Аннотация: Содержит вторично-эмиссионные методы мониторинга и контроля ионно-лучевой обработки. Учебное пособие предназначено для студентов и аспирантов, специализирующихся в области высокоэффективных технологий обработки материалов, проектирования и технологии приборостроения и радиоэлектронной аппаратуры.
    Доп. точки доступа:
    Григорьев, Сергей Николаевич
    Борисов, Анатолий Михайлович
    Суминов, Игорь Вячеславович
    Андрианова, Н.Н.
    Овчинников, М.А.
    "СТАНКИН", московский государственный технологический университет

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д11-23/13923)

    Шифр в сводном ЭК: 0423443617f5133b19e126ddbf550223



    Заказ фрагмента документа ₽