Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 3,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Швамм К.Л. Электронно-микроскопическое исследование кристаллов с сильным изгибом решетки в тонких пленках на основе халькогенидов и оксидов металлов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / К. Л. Швамм, 2007. - 22 с. - Текст : непосредственный.