Шабельникова Я.Л. Анализ ключевых характеристик методов локальной диагностики полупроводников - метода наведенного рентгеновским пучком тока и рентгеновского флуоресцентного метода : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.07, 05.27.01 / Я. Л. Шабельникова, 2013. - 26 с. - Текст : непосредственный.