Вълков И.Ц. Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : Автореферат диссертации на соискание ученой степени канд.техн.наук: 05.27.01 / И. Ц. Вълков, 1994. - 16 с. - Текст : непосредственный.