• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Liu, X. Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits / X. Liu, Q. Xu. - Heidelberg : Springer, 2014. - on-line. - (Lecture Notes in Electrical Engineering ; vol. 252). - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-00533-1. - Загл. с экрана. - ISBN 978-3-319-00533-1. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.33.31621.3.049.771.14-048.24

    Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ИСПЫТАНИЕ
    Доп. точки доступа:
    Xu, Q.

    https://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-00533-1


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ???-241311/252)

    Шифр в сводном ЭК: 764246674c13cfd944b176954968fda7



    Заказ фрагмента документа ₽

    Просмотр издания