Полное описание

Jha, N. K. Testing and reliable design of CMOS circuits / N.K.Jha,S.Kundu. - Boston, Ma [etc.] : Kluwer, 1990. - XII,231 p. p. : ill. - (The Kluwer international series in engineering and computer science ; 88). - ISBN 0-7923-9056-3. - Текст : непосредственный.
Библиогр.в конце ст.Указ.:с.227-231

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14

Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Испытание
Интегральные схемы большие -- Проектирование

Доп. точки доступа:
Kundu, S.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/15815/88)

Шифр в сводном ЭК: 45b2dcff623d11f7e5482d81f5f8aa0c

Заказать издание
Заказ фрагмента документа