Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 2,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Jong A.F.de Image interpretation for transmission electron microscoopy of thin semiconductor layers and interfaces : Diss. / A.F.de Jong, 1990. - 185 p. - Текст : непосредственный.