Электронный каталог

страница из

всего найдено записей: 1,
  отображать
10 записей 20 записей 40 записей

Sachdev M. Defect-oriented testing for nano-metric CMOS VLSI circuits / M. Sachdev, J. P. Gyvez, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.