Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 3,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Eckstein M. Defektcharakterisierung in Verbindungshalbleitern durch rasterelektronenmikroskopische Methoden : Diss. / M.Eckstein, 1990. - 144 S. - Текст : непосредственный.

    Pure profit for Russia: benefits of responsible finance / M. Eckstein [et al.]; ed. I. Gerasimchuk [et al.], 2010. - 125 p. - Текст : непосредственный.