Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 4,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Cheng K.-T. Unified methods for VLSI simulation and test generation / K.-T.Cheng,V.D.Agrawal, 1989. - XII,148 p. p. - Текст : непосредственный.

    Tutorial test generation for VLSI chips / ed. V. D. Agrawal, ред.compl. S. C. Seth, 1988. - X,401 p. p. - Текст : непосредственный.