Электронный каталог


    страница из
    всего найдено записей: 1,
      отображать

    Frontiers in electronic testing-FRET / ed. V. Agrawal. Vol. 37 : Emerging nanotechnologies: Test, defect tolerance, and reliability / ed. M. Tehranipoor, 2008. - XII, 405 p. с. - Текст : непосредственный.