• ВХОД
  •  

    Полное описание

    Origin of rheed intensity oscillations during the growth of (Y,Dy)Ba2Cu3O7-x thin films / V.S.Achutharamam,N.Chandrasekhar,O.T.Valls,A.M.Goldman. - Minneapolis(Mn) : [s. n.], 1993. - 21 p. : ill. - (UMSI research report / Univ.of Minnesota ; 93/207). - Текст : непосредственный.
    Библиогр.:с.10-11

    ГРНТИ УДК
    29.19.29538.945:539.216.2

    Рубрики:
    Сверхпроводящие пленки -- Производство

    Доп. точки доступа:
    Achutharamam, V.S.
    Chandrasekhar, N.
    Valls, O.T.
    Goldman, A.M.

    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/17401/93/207)

    Шифр в сводном ЭК: fb343beeb9cf74f6aeb70597865e7fc1



    Заказ фрагмента документа