Полное описание

Шефер, К. И. Анализ дефектов в структурах гидроксидов и оксидов алюминия на основе рентгенографических данных : автореф. дис. ... канд. хим. наук: 02.00.04 / К. И. Шефер. - 2008. - 18 с : ил. - Библиогр.: с. 17-18(15 назв.). - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
31.19.15	546.62-31.04:543.428.8(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Ар08-8227)

Шифр в сводном ЭК: eeeea69ccb8b5ab7b9a28e6e4adcbc6b

Заказать издание
Заказ фрагмента документа