Полное описание

Бушуев, В. А. Физические принципы рентгенодифрактометрического определения параметров реальной структуры многослойных эпитаксиальных пленок / В.А.Бушуев,Р.Н.Кютт,Ю.П.Хапачев;Под ред.Ю.П.Хапачева. - Нальчик : [б. и.], 1996. - 280 c. : ил. - 300 экз. - Текст : непосредственный.
В надзаг.:Кабардино-Балкар.гос.ун-т.Библиогр.:с.171-178(260 назв.)

ГРНТИ	УДК
47.33	621.315.592.9

Рубрики:
Гетероструктуры

Доп. точки доступа:
Кютт, Р.Н.
Хапачев, Ю.П.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): Д8-96/25944)

Шифр в сводном ЭК: c70f2a56b26ff41a35380d34bf422b1c

Заказать издание
Заказ фрагмента документа