Полное описание

Frontiers in electronic testing-FRET / ed. V. Agrawal. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 20 - . - Текст : непосредственный.
Vol. 37 : Emerging nanotechnologies: Test, defect tolerance, and reliability / ed. M. Tehranipoor. - 2008. - XII, 405 p. : ill. - Библиогр. в конце частей. Указ.: с. 399-405

ГРНТИ	УДК
81.13	620.3

Рубрики:
Нанотехнологии

Доп. точки доступа:
Agrawal, V.\ed.\
Tehranipoor, M.\ed.\

Копия:

Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18259/37)

Шифр в сводном ЭК: b6a279e7dde4720f1fa475f127676eef

Заказать издание
Заказ фрагмента документа