Полное описание

Кютт, Р. Н. Рентгеновская дифрактометрия реальной структуры монокристаллов и эпитаксиальных слоев на основе двумерного анализа интенсивности : автореферат диссертации на соискание ученой степени д-ра физ.-мат.наук:01.04.07 / Р. Н. Кютт. - СПб, 1995. - 39 с. : ил. - Текст : непосредственный.
В надзаг.: Рос.АН.Физ.-техн.ин-т им.А.Ф.Иоффе. Библиогр.: с.35-39(37 назв.)_

ГРНТИ	УДК
29.19.19	548.73(043)
	539.216.2:548.7(043)

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): АР95-6214)

Шифр в сводном ЭК: 888753db8db9628e9c2fdf4cc1fddf76

Заказать издание
Заказ фрагмента документа