Полное описание

Bhushan, M. CMOS Test and Evaluation. A Physical Perspective / M. Bhushan, M. B. Ketchen. - New York, NY : Springer, 2015. - on-line. - URL: https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-1349-7#authorsandaffiliationsbook. - Загл. с экрана. - ISBN 978-1-4939-1349-7. - Текст : электронный.

ГРНТИ	УДК
47.33.31	621.3.049.771.14

Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ИСПЫТАНИЕ -- КМОП-СТРУКТУРЫ -- ОЦЕНКА
Доп. точки доступа:
Ketchen, M.B.

https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4939-1349-7#authorsandaffiliationsbook

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): ???-044377)

Шифр в сводном ЭК: 85ff66b1284dc1485a6e28704e6a67c0

Заказать издание
Заказ фрагмента документа

Просмотр издания