Полное описание

Applied scanning probe methods / ed. B. Bhushan [et al.]. - Berlin [etc.] : Springer, 20 - . - Текст : непосредственный.
9 : Characterization. - 2008. - LIX, 387 p. : ill. - (NanoScience and technology/ ed.: P. Avouris [et al.]). - Библиогр. в конце разд. Указ.: с. 373-387

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35

Рубрики:
Микроскопия электронная

Доп. точки доступа:
Bhushan, B.\ed.\

Копия:

Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/18201/9)

Шифр в сводном ЭК: 75394d72e06eb2ef65b9846373cbf166

Заказать издание
Заказ фрагмента документа