• ВХОД

    •  

    Полное описание

    Tehranipoor, M. Nanometer technology designs high-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed ; SpringerLink (Online service). - Boston, Ma : Springer, 2008. - on-line. - URL: http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5. - ISBN 978-0-387-75728-5. - Текст : электронный.

    ГРНТИ УДК
    47.13.81621.3.049.771.14:658.562

    Кл.слова (ненормированные): БОЛЬШИЕ ИНТЕГРАЛЬНЫЕ СХЕМЫ -- ТЕХНИЧЕСКИЙ КОНТРОЛЬ
    Доп. точки доступа:
    Ahmed, N.
    SpringerLink (Online service)

    http://dx.doi.org/10.1007/978-0-387-75728-5


    Держатели документа:
    Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): 621.3.049.771.14:-863141)

    Шифр в сводном ЭК: 63532a5acee7c3c372dad63e1eb6fead



    Просмотр издания