Полное описание
> Elektronika : pr. nauk. / Politech. Warszawska. - Warszawa : Wydaw. politech. Warszawskiej, 19? - . - ISSN 0137-2343. - Текст : непосредственный.
z. 172 : Analiza topografii ukladow scalonych VLSI pod katem ich produkowalnosci / W. A. Pleskacz. - 2009. - 119 s. : il. - Рез. англ. - Библиогр.: с. 107-116 (154 назв.)
ГРНТИ | УДК | |
47.33.31 | 621.3.049.771.14.001.2 |
Рубрики:
Интегральные схемы большие -- Проектирование
Доп. точки доступа:
Politechnika Warszawska
>
Нет сведений об экземплярах
Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): R/11492/172)>
Шифр в сводном ЭК: 3040285fe6610a56d91a04ffe2515d0f
Заказ фрагмента документа