Полное описание

Tehranipoor, M. Nanometer technology designs. High-quality delay tests / M. Tehranipoor, N. Ahmed. - New York, NY [etc.] : Springer sci. + Business Media, 2008. - XVII, 281 p. : ill. - Библиогр. в конце глав. Указ.: с. 277-281. - Текст : непосредственный.

ГРНТИ	УДК
81.13	620.3

Рубрики:
Нанотехнологии

Доп. точки доступа:
Ahmed, N.

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): J2/27705)

Шифр в сводном ЭК: 27c623feab07b03d93ebf3aab7ce213a

Заказать издание
Заказ фрагмента документа