Полное описание

Scanning probe microscopy : 7th Intern. colloquium on scanning probe microscopy was held at Atagawa Haitsu, Shizuoka, from Dec.9-11, 1999 / Ed. M. Yoshimura. - Tokyo : Jap. soc. of appl. phys., 2000. - 3701-3833 p. p. : ill. - (Japanese journal of applied physics.Pt.1.Regular papers, short notes & review papers ; 2000,Vol.39,N 6B). - Текст : непосредственный.
Библиогр. в конце ст. Указ. в конце кн.

ГРНТИ	УДК
29.35.43	537.533.35(063)

Рубрики:
Микроскопия электронная -- Съезды и конференции

Кл.слова (ненормированные): ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ
Доп. точки доступа:
Yoshimura, M.\ed.\

Держатели документа:
Государственная публичная научно-техническая библиотека России : 123298, г. Москва, ул. 3-я Хорошевская, д. 17 (Шифр в БД-источнике (KATBW): W2806/2000,Vol.39,N 6B)

Шифр в сводном ЭК: 06826797df5c337a231cf76fe913049f

Заказать издание
Заказ фрагмента документа