Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 10,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Nagashima K. Electron temperature profile measurement using the filter absorption method in JT-60 : Mfiche(1) / K.Nagashima,T.Nishitani,H.Takeuchi, 1990. - 26 мкфш. - Текст : непосредственный.

    Absolute calibration of the neutron yield measurement on JT-60 upgrade / T.Nishitani,H.Takeuchi,C.W.Barnes,, 1991. - 23 p. - Текст : непосредственный.

    Нонака И. Компания - создатель знания : Зарождение и развитие инноваций в японских фирмах / И.Нонака,Х.Такеучи, 2003. - 361 с. - Текст : непосредственный.

    Reduced cost design of liquid lithium target for international fusion material irradiation facility / H.Nakamura,M.Ida,M.Sugimoto и др., 2001. - 17 p. - Текст : непосредственный.

    Development of new assembly techniques for a silicon micro-vertex detector unit using the flip-chip bonding method / Y.Saitoh,H.Takeuchi,M.Mandai и др., 1993. - 17 p. - Текст : непосредственный.

    Портер М. Японская экономическая модель : может ли Япония конкурировать?: Пер. с англ. / М. Портер, Х. Такеути, М. Сакакибара, 2005. - 261 с. с. - Текст : непосредственный.

    Development of novel fabrication techniques for a silicon micro-Vertex detector unit using the flip-chip bonding method : Submitted to the IEEE transaction on nuclear sci.symp.,Nov.2-6,1993,San Francisco(Ca) / Y.Saitoh,H.Takeuchi,M.Mandai и др., 1993. - 5 p. - Текст : непосредственный.