Alford T.L. Fundamentals of nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer, 2007. - XIV, 336 p. с. - Текст : непосредственный.
Альфорд Т.Л. Фундаментальные основы анализа нанопленок / Т. Л. Альфорд, Л. К. Фельдман, Д. В. Майер; пер. с англ. А. Н. Образцова, М. А. Долганова; науч. ред. А. Н. Образцов, 2012. - 390 с. с. - Текст : непосредственный.
Alford T.L. Fundamentals of nanoscale film analysis / T. L. Alford, L. C. Feldman, J. W. Mayer, 2007 r=on-line. - Текст : электронный.