Электронный каталог

    страница из
    всего найдено записей: 2,
      отображать

    Лицевая сторона карточкиОбратная сторона карточки

    Dose characteristics of high-energy neutrons for radiation damage evaluation of silicon semiconductor devices / F.G.Alekseev,E.N.Savitskaya,S.A.Kharlampiev,I.A.Kurochkin, 1994. - 14 p. - Текст : непосредственный.