Тюриков А.В. Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 05.11.14, 05.11.13 / А. В. Тюриков, 2004. - 20 с. с. - Текст : непосредственный.