Сошников А.И. Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда : автореф. дис. .. канд. физ.-мат. наук: 01.04.10 / А. И. Сошников, 2011. - 30 с. - Текст : непосредственный.
Сошников А.И. Исследование и модифицирование полупроводниковых структур алмазными токопроводящими зондами / А. И. Сошников. - Текст : непосредственный. // Нанотехника : инженер. журн. - М. - 2008. - № 3. - с. 72-76